专利详细信息
半导体激光器测试系统设备（空间轮廓）
文献类型：专利
专利类型：外观设计
是否失效：否
是否授权：否
申 请 号：CN201530186873.1
申 请 日：20150609
申 请 人：西安炬光科技有限公司
申请人地址：710077 陕西省西安市高新区丈八六路56号陕西省高功率半导体激光器产业园内
公 开 日：20151118
公 开 号：CN303451389S
语 种：中文
摘 要：1．本外观设计产品的名称：半导体激光器测试系统设备（空间轮廓）。;2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于半导体激光器空间轮廓特性的测试。;3．本外观设计产品的设计要点：结构。;4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。
IPC专利分类号：10-07(10)
参考文献：
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二级参考文献：
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耦合文献：
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引证文献：
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二级引证文献：
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同被引文献：
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