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专利详细信息

一种测定氯化氢中痕量水的方法       

文献类型:专利

专利类型:发明专利

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN85106189

申 请 日:19850820

发 明 人:宋为民 马贵谆 白桂华

申 请 人:北京化纤工学院 北京氧气厂 吉林省通用机械厂

申请人地址:北京市和平街北口

公 开 日:19870429

公 开 号:CN85106189A

代 理 人:刘卓夫

代理机构:01020 纺织专利咨询服务中心

语  种:中文

摘  要:本发明是一种新的测定氯化氢中痕量水的方法。通过二个阀门的切换配合,让被测气体通过冷阱,使氯化氢与水分离。通过热解析,水分经过电解池鉴定。由于本方法消除了本底信号的干扰。所以可测定含有1ppm的水浓度值。本方法准确度高、分析时间短。所用样品少,而且对仪器不产生腐蚀。它既可测定惰性气体和带腐蚀性气体中痕量水。也可用于半导体工业、核工业、激光、光导纤维和科研等方面的气体中进行痕量水分析。

主 权 项:1、一种新的测定氯化氢中痕量水的分析方法,利用冷凝、富集方法将氯化氢气体中痕量水冷凝下来,并排除定量管内的氯化氢,然后再热解并分析被冷凝下来的水量,其特征在于使用了二条高纯氮气气路Ⅱ和Ⅲ,通过四通阀、六通阀的配合操作,使定量管内被冷凝的水量经 定器,记录仪以脉冲信号方式被测定。

关 键 词:氯化氢 光导纤维 半导体工业 腐蚀性气体  准确度  惰性气体  分析时间  电解池  水分离  水分析 水浓度  核工业 阀门  冷阱 解析  激光  腐蚀  干扰  科研  

IPC专利分类号:G01N25/56

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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