期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
LU Yanfei(The 32nd Research Institute of CETC,Shanghai 201808,China)
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第三十二研究所,上海201808
年 份:2020
期 号:8
起止页码:8-9
语 种:中文
收录情况:普通刊
摘 要:阐述集成电路封装技术的发展与摩尔定律限制的影响,比较多种封装技术的原理和特点,分析Si P封装技术在尺寸和质量、功耗和性能、成本和应用更具优势。在此基础上,展望主流的先进封装技术。
关 键 词:集成电路制造 封装技术 摩尔定律 SIP
分 类 号:TN405]
参考文献:
正在载入数据...
二级参考文献:
正在载入数据...
耦合文献:
正在载入数据...
引证文献:
正在载入数据...
二级引证文献:
正在载入数据...
同被引文献:
正在载入数据...