文献类型：期刊文章

作　　者：邹峰[1] 郑天雄[1] 张官扬[1] 刘自胜[1]

Zou Feng;Zheng Tianxiong;Zhang Guanyang;Liu Zisheng(Hubei Key Laboratory of Modern Manufacturing Quality Engineering,School of Mechanical Engineering,Hubei University of Technology,Wuhan,Hubei 430068,China)

机构地区：[1]湖北工业大学机械工程学院湖北省现代制造质量工程重点实验室,湖北武汉430068

出　　处：《应用激光》

年　　份：2020

卷　　号：40

期　　号：6

起止页码：1132-1137

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2017、CSCD、CSCD_E2019_2020、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：为了能够实现高精度的距离测量,本文提出了一种利用AOM声光调制器线性扫频的测距方法。基于干涉理论,建立了测距距离与位相、频率之间的数学理论模型。测距实验中,采用AOM声光调制器双通扫频的方案,搭建了测距光路实验系统,产生双频成分的光。通过光电探测器,把实验中的光信号转换成电信号。由于产生的为非光学干涉信号,实验中加相关的电子学器件,进行了信号解调处理。最后,实验数据经过FFT变换处理,结果表明测距距离为24.17 m,测距波动范围为±0.22 m。

关 键 词：线性扫频 干涉理论  测距光路  信号解调 FFT变换  

分 类 号：TN761]