文献类型：期刊文章

作　　者：闫群民[1] 李欢[1] 翟双[1] 胡丽斌[2] 陈杰[2]

YAN Qunmin;LI Huan;ZHAI Shuang;HU Libin;CHEN Jie(College of Electrical Engineering,Shaanxi University of Technology,Hanzhong 723001,Shaanxi Province,China;State Grid Jiangsu Electric Power Co.,Ltd.Research Institute,Nanjing 211103,Jiangsu Province,China)

机构地区：[1]陕西理工大学电气工程学院,陕西省汉中市723001 [2]国网江苏省电力有限公司电力科学研究院,江苏省南京市211103

出　　处：《中国电机工程学报》

基　　金：江苏省电力有限公司电力科学研究院科技项目(SGJSDK00ZPJS1800362);陕西省教育厅重点实验室项目(18JS019).

年　　份：2020

卷　　号：40

期　　号：2

起止页码：692-701

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2017、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2019_2020、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘　　要：陷阱参数可影响交联聚乙烯(cross-linked polyethylene,XLPE)电缆绝缘中载流子的注入和迁移过程,进而对XLPE电缆绝缘的介电性能产生影响。针对商用110kV的高压配电电缆绝缘,通过等温表面电位衰减(isothermal surface potential decay,ISPD)测试系统研究不同温度热老化过程对XLPE电缆绝缘表面陷阱参数的影响。实验结果表明,未老化的XLPE电缆绝缘表面以电子深陷阱和空穴深陷阱为主,当老化温度低于XLPE的熔融温度(T_m)时,浅陷阱密度增加,深陷阱密度变化幅度不大,XLPE电缆绝缘表面仍以深陷阱为主。而当老化温度高于Tm时,电子、空穴浅陷阱密度大幅增加,深陷阱密度大幅下降,陷阱能级下降,老化临界时间之后,XLPE试样表面以电子浅陷阱和空穴浅陷阱为主。热老化试样中浅陷阱密度的增加可能来源于羰基(C=O)等老化副产物的增加,深陷阱密度的下降可能是来源于老化过程对球晶的破坏。不同老化温度条件下表面陷阱密度和能级变化规律的差异可能是由晶体结构劣化方式的差异造成。

关 键 词：交联聚乙烯 热老化 等温表面电位衰减  陷阱  

分 类 号：TM247[材料类]